布魯克AXS的D8 ADVANCE X射線衍射儀，通過TWIN-TWIN光路，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓光路互換、重新對光等問題方便解決

測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度

林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，提高設(shè)備的使用效率和設(shè)備的探測靈敏度。

技術(shù)指標(biāo)：                                                

Theta/theta 立式測角儀

2Theta角度范圍：-110~168°

角度精度：0.0001度

Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管

探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

儀器尺寸：1868 x 1300 x 1135 mm

應(yīng)用

物相定性分析 、物相定量分析

結(jié)晶度及非晶相含量分析、結(jié)構(gòu)精修及解析、點(diǎn)陣參數(shù)測量

無標(biāo)樣定量分析、微觀應(yīng)變分析、晶粒尺寸分析、原位分析

殘余應(yīng)力、低角度介孔材料測量、織構(gòu)及ODF分析

薄膜掠入射、薄膜反射率測量、小角散射