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布魯克X射線衍射儀D8 DISCOVER

May 09,2020

布魯克D8 DISCOVER X射線衍射儀,材料研究領域的X射線衍射系統。配備集成化的DIFFRAC SUITETM軟件,附件自動識別、即插即用以及集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以方便的在材料研究領域的不同應用之間切換,包括:反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。

主要應用

高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度
晶胞參數
晶格錯配
組份
應變及弛豫過程
橫向結構
鑲嵌度

X射線反射率(XRR)
薄膜厚度
組份
粗造度
密度
孔隙度

倒易空間圖譜(RSM)
晶胞參數
晶格錯配
組份
取向
弛豫
橫向結構

面內掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射線散射(GISAXS)
晶胞參數
晶格錯配
橫向關聯性
取向
物相組成
孔隙度

應力和織構分析
取向分布
取向定量
應變
外延關聯
硬度

物相鑒定(Phase ID)
物相組成
d值確定

擇優取向
晶格對稱性
晶粒大小

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